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: Entreprise / Formation

Certification : ISO9001

Bulletins : 2000 / 2001 / 2002 / 2003 / 2004 / 2005 / 2007

Fiches d'application (cas concrets d'études Science et Surface):
1- Caractérisation d'un refus d'adhérence peinture par XPS et ToF-SIMS
2- Influence d'un traitement de flammage d'un polypropylène
3- Contrôle du nettoyage d'une surface par XPS et ToF-SIMS
4- Contrôle de la passivation d'un acier inoxydable par XPS
5- Contrôle d'un dépôt de couche dure de type Cr(N)) par GD-OES
6 - Caractérisation d'un revêtement Ti(N) par SDL
7- Caractérisation d'un revêtement dur sur un outil coupant par SIMS et SNMS
8- Caractérisation de l’épaisseur d’une couche de lubrification en surface d’un revêtement d’un disque d’ordinateur par XPS et SIMS
9- Caractérisation de diélectriques destinés aux interconnections avancées par SIMS
10- Recherche des contaminants en surface d’un semi-conducteur par SIMS
11- Caractérisation d’une structure Si/Nb après recuit thermique par SIMS
12- Caractérisation d’un revêtement anti-reflets par SIMS
13- Contrôle du vieillissement de couches magnéto-optiques par SIMS
14- Caractérisation d’un revêtement dur Cr(N) par GD-OES
15- Caractérisation d’un défaut de mouillabilité d’une surface par XPS
16- Caractérisation de plaquages d’aluminium par GD-OES
17- Caractérisation de plaquages d’aluminium après brasage par GD-OES
18- Caractérisation d’une tôle galvanisée par GD-OES
19- Caractérisation d’aciers inox nitrurés par GD-OES
20- Caractérisation de revêtement de coussinets de bielle par GD-OES
21- Identification d’additifs en surface d’un polymère par ToF-SIMS
22- Adhésion métal/polymère : Identification des contaminants à l’interface par ToF-SIMS
23- Défaut d’adhérence dans un composite
24- Caractérisation d’un dépôt SiON sur un substrat silicium par XPS
25- Caractérisation de l’oxydation superficielle de billes de soudures par XPS
26- Contrôle de l’épaisseur d’oxyde d'aluminium par XPS
27- Transfert d'un produit siliconé sur une surface adhésive
28- Caractérisation de revêtements de nickel chimique ou électrolytique (NiP) par GD-OES
29- Caractérisation de revêtements zinc/nickel par GD-OES
30- Caractérisation de couches minces anti-reflets par SIMS
31- Fonctionnalisation d’un polymère par traitement de fluoration
32- Caractérisation d’un revêtement anti-taches sur un polymère par XPS
33- Caractérisation de nanocouches de carbone amorphe par SIMS
34- Couches minces de silice dopée pour des applications optiques
35- Caractérisation d’un empilement multicouche de type TiC-VC formé par diffusion de carbone par GD-OES
36- Caractérisation de couches d’aluminium anodisé par MET et GD-OES
37- Caractérisation d’un revêtement dur Ti(C,N) par GD-OES
38- Caractérisation d’un revêtement DLC (Diamond Like Carbon) par GD-OES
39- Détermination de Cr VI dans traitements de surface par XPS
40- Dépôt de nickel pour la soudure de SC
41- Caractérisation de couches anodisées peintes par GD-OES
42- Analyse de défaut sur un connecteur par XPS
43- Application en profilométrie XPS
44- Application de l’analyse angulaire par XPS
45- Application de l’analyse angulaire par XPS - 2
46- Identification des contaminants en surface de matériaux métalliques (acier, alliages divers…) par ToF-SIMS
47- Développement de solutions antibactériennes pour textiles
48- Dépôt plasma de revêtement antibactérien
49- Défauts de mouillabilité de soudure étain sur un pad nickel
50- Défauts de type « black pad » sur un PCB
51- Caractérisation d'acier étamé ou fer blanc par GD-OES
52- Analyse de revêtement DLC par SIMS
53- Caractérisation d'un traitement de nitruration avec post oxydation par GD-OES
54- Caractérisation de couches anodisées sur alliage d’aluminium par MEB-FEG
55- Effet d’un traitement plasma sur la pollution de surface
56- Etude de fils gainés silicone en surface et en coupe par MEB-FEG et ToF-SIMS
57- Etude de la silanisation par XPS et ToF-SIMS
58- Identification d'une contamination (tache) sur une tôle métallique par FTIR en mode spéculaire
59- Recherche de dopants dans des zones localisées de semi-conducteurs par SIMS
60- Recherche de dopants de semi-conducteurs dans une micro-technologie par SIMS
61- Caractérisation d'une structure en puits quantiques pour diode laser par SIMS
62- Caractérisation d’un revêtement de biopolymère pour implants en titane par XPS, ToF-SIMS et SIMS
63- Étude des effets de tests salivaires sur un revêtement de biopolymère pour implants en titane par MEB, ToF-SIMS et SIMS
64- Étude des effets des processus de stérilisation sur implant en TA6V revêtu d’un biopolymère par XPS et ToF-SIMS
65- Caractérisation morphologique et chimique de la surface d’un implant dentaire par MEB/EDS, XPS, ToF-SIMS et rugosité
66- Etude de revêtements photocatalytiques sur des textiles souples pour le domaine du bâtiment -1 par MEB/EDS, XPS et ToF-SIMS
67- Etude de revêtements photocatalytiques sur des textiles souples pour le domaine du bâtiment -2 par MEB/EDS, XPS et ToF-SIMS
68- Analyses de défauts en surface d’un composite par MEB/EDS et FTIR
69- Contribution de la microscopie IRTF pour la compréhension des mécanismes de dégradation de l’acide Poly-L-Lactique par microscopie FTIR
70- Etude des couches DLC sur substrat élastomère pour usage mécanique par ToF-SIMS, SIMS et MEB-EDS
71- Caractérisation d'un traitement d’échange d’ions dans un verre alkali-aluminosilicate par GD-OES
72- Etude de multicouches photovoltaïques
73- Influence d'un traitement plasma atmosphérique sur film polymère par XPS et ToF-SIMS
74 - Caractérisation d'un revêtement diélectrique sur polycarbonate par ToF-SIMS
75- Profils ToF-SIMS en profondeur 2D et 3D d'un revêtement dur (5µm) sur acier
77- Profilométrie XPS avec source GCIB
78- Etude de la fonctionnalisation d’un PP par plasma atmosphérique


Publications internationales (avec la participation de Science et Surface) :Participations dans thèses (avec la participation de Science et Surface) :Publications dans revues scientifiques (avec la participation de Science et Surface) :Participations avec posters (avec la participation de Science et Surface) :
Participation à des communications orales (avec la participation de Science et Surface) :Participation à un livre (avec la participation de Science et Surface) :
mis à jour le 28/05/2018